1. ΑΝΑΛΥΣΗ ΕΠΙΦΑΝΕΙΩΝ

1. Εξειδικευμένες μετρήσεις επιφανειακού χαρακτηρισμού σε δείγματα ομογενών στερεών υλικών και λεπτών υμενίων στηριγμένων πάνω σε επιφάνειες στερεών υλικών. Ο επιφανειακός χαρακτηρισμός, σε βάθος 0-10nm, περιλαμβάνει την στοιχειακή ανάλυση (ποιοτική και ποσοτική ) και, κατά περίπτωση, προσδιορισμό δομής και ηλεκτρονικών ιδιοτήτων της αναλυόμενης περιοχής, καθώς και του πάχους των υμενίων .
Σημ.: Η στοιχειακή επιφανειακή ανάλυση με την φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες- Χ ( XPS) είναι διαπιστευμένη κατά ISO17025 από το ΕΣΥΔ (Αρ.Πιστοπ. 660 / 12-3-2010)